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分立器件 GRM21BR61H475KE51L 失效分析报告

日期：2024-11-04 16:25:50 浏览量：495 作者：雷竞技raybet官网 检测中心

综上测试分析，F2失效品因EOS导致内部结构烧毁而引起短路失效。

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