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集成电路 TUSB4020BIPHPR 失效分析报告

日期：2024-11-04 16:36:45 浏览量：524 作者：雷竞技raybet官网 检测中心

综上测试分析，推测因ESD/EOS导致失效品下层电路损坏而引起漏电失效。

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